Positron Annihilation in Semiconductors

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ISBN/EAN: 9783540643715
The subject of this book is the investigation of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. A comprehensive review is given of the different positron techniques, whose application to various kinds of defects, e.g. vacancies, impurity-vacancy complexes and dislocations, is described. The sensitivity range of positron annihilation with respect to the detection of these defects is compared to that of other defect-sensitive methods. The most prominent results obtained with positrons in practically all important semiconductors are reviewed. A special chapter of the book deals with positron annihilation as a promising tool for many technological purposes. The theoretical background necessary to understand the experimental results is explained in detail.
Autor: Krause-Rehberg, Reinhard Leipner, Hartmut S.
EAN: 9783540643715
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 400
Produktart: Gebunden
Veröffentlichungsdatum: 21.01.1999
Untertitel: Defect Studies
Schlagworte: Halbleiter / Physik

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